D类功放IC外围设计与板级Layout
1. D类功放IC电源、地线
1.1电源端的设计
D类功放IC电源端的设计通常可采用以下两种方式。
图1. 电源端设计示意图一
图2. 电源端设计示意图二
适当的电源旁路电容能滤除高频,如上图PVDD旁的C3和AVDD旁的C2。旁路电容应该尽可能靠近D类功放IC芯片引脚放置。
另外,对于整个系统,比较好的做法是,模拟电源应从大电容端单独提供,如图2,而不是就近从PVDD提供,以防PVDD的纹波影响模拟电路。而不同的地在有必要时也需进行适当隔离。
1.2D类功放IC电源设计
通常便携式产品会用到DC-DC的方式来提供电源。有时,DC-DC部分的设计不当,导致电源纹波过大,浪涌过大,会直接影响D类功放IC芯片的正常工作,甚至烧毁芯片(通常的现象是某个通道的输出管脚烧坏,如表现为二极管特性消失)。
2.D类功放IC音频输入端
2.1接入方式
单端输入:即INL+和INR+(如果是单通道,则只有一个IN+)接至输入前级的两个正端(如果是单通道,则只接一个通道),INL-和INR-并联至输入前级的地。而INL-和INR-都接至功放的公共地。
D类功放IC差分方式:要求输入前级也是差分输出,即每个通道有正负两端,正好接入功放对应通道的正负端。
D类功放IC“伪差分”方式:由于现阶段一般的低端音频设备都是采用单端的输出方式,而我们的D类功放IC多采用差分输入方式。其与上述单端输入接法一致,即输入前级的两个正端接至INR+和INL+,输入前级的地接至INL-和INR-,不同的是,INL-与INR-并不接至D类功放IC的公共地。
图3. 单端输入方式与“伪差分”输入方式
如上图3,若把R3短接,即为上述所说的单端输入方式;而若把R3断开,则为“伪差分”输入方式。
一般而言,差分输入方式是最佳的输入方式,理论上能去除所有共模噪声。而由于现阶段一般的低端音频设备都是采用单端的输出方式,从而只能采用上面说的“伪差分”输入方式。一般的噪声问题使用“伪差分”输入方式能有效改善,除非干扰过大而超过了差分输入的抑制极限(由于差分输入方式很难使差分的两端完全一致,所以抑制共模噪声的能力是有限制的)。总而言之,需要综合考虑应用情况,来确定输入端使用的接入方式。
Note: 很多两线的电源(即浮地产品)的地线对三相电大地存在压差,有些劣质产品其压差能达到上百伏。如果用这样的劣质产品作为D类功放IC的电源,当音频输入为三相供电的接地产品时,其压差是一个非常大的干扰源,此时的“伪差分”输入方式改善噪声已较困难。
2.2D类功放IC接入线
即音频输入线,有必要时,使用屏蔽线、缩短线长等都能改善噪声问题,而屏蔽线中屏蔽网的接法也需要根据实际应用情况仔细考虑。
2.3D类功放IC电阻匹配RIN+-
在信号输入的正负端(IN+和IN-间)加一个RIN+- 电阻,可以有效降低相关噪声,如下图4的R1(下图是单端输入方式,“伪差分”输入方式时也适用):
图4. 电阻匹配RIN+-
RIN+-的推荐值是1K,增大该值会略微增大音量,但也会是降低噪声的能力减弱,减小该值则相反。
2.4D类功放IC输入电容CIN
关注低频的用户可以考虑使用钽电容或铝电解电容作为输入电容,陶瓷电容等高电压系数的电容可能会导致低频失真加剧。
2.5D类功放IC输入滤波器衰减低频
通常,使用1uF的输入电容CIN能够满足应用需求,然而,由于客户使用喇叭情况的各异,有时需要不同处理。特别是有些客户在低端应用中使用的喇叭,对低频音乐的响应度不好,容易在低音音乐段出现音质问题,权衡的处理方式是把输入的音乐信号中的低频进行一定的衰减,以使喇叭能够胜任相应的低频响度。
我们推荐的输入音乐衰减方式主要是在输入端加入滤波器,以对低频进行不同程度的衰减,主要有以下几种方式:
减小输入电容CIN。我们推荐的输入电容是1uF,在衰减低频的情况下,可以将其减小至0.1uF甚至1nF,主要视客户具体情况;
将输入端接法改为如下图5(列出右声道,左声道同样处理),相关值需视具体情况微调;
图5. 音频输入端电路1
将输入端接法改为如下图6(列出右声道,左声道同样处理),相关值需视具体情况微调;
图6. 音频输入端电路2
2.6输入信号
需考虑音源输入的幅度不能过大,否则可能引起输出信号的破音,且导致D类功放IC芯片损伤。
3.音频输出端
3.1输出滤波器
一般而言,输出端可直接接上负载。如果输出端的输出线较长,或者对EMI的要求较高,则可选择添置铁氧体磁珠或LC滤波器。
如果选择铁氧体磁珠,其高频时需有高阻抗(Z(100MHz) 100Ω以上)、低频时有低阻抗,额定电流也是需要考虑的参数之一(
图7. 输出端接铁氧体磁珠
如果选择LC滤波器,其低通截止频率一般略大于20kHz。
图8. 输出端接LC滤波器
布板时,磁珠(电感)、电容紧靠芯片输出管脚放置,尽量减短输出管脚到磁珠(电感)的布线长度,且布线应尽量短而宽,尽量无弯角。
3.2输出Snubber电路与肖特基二极管(压敏电阻)的设计
如果电源电压较大,纹波较严重,浪涌较大,或者输入信号较大时,有必要在输出端加入Snubber电路(RC网络)和肖特基二极管(或压敏电阻),以防输出端烧坏,亦有助于提高系统整机的ESD测试等级。电路如下图:
图9. Snubber电路与肖特基二极管
图10. Snubber电路与压敏电阻
4.D类功放IC其他外围设计
4.1 Pop声
D类功放IC内部集成有Pop噪声抑制电路,专门抑制上电/掉电/待机/恢复等转换中出现的Pop噪声。
不过,即便如此,pop声还是无法彻底消除,特别是在上电时。若系统中存在MCU等控制芯片,则可通过软件方式很好的将pop声降到0:芯片上电时,一直启动Mute功能,等稳定(一般在200ms)以后,再关闭Mute功能;而在断电时,先启动Mute功能,再断电。
4.2D类功放IC散热设计
HT设计的D类功放IC其封装底部一般会带有一个散热裸焊盘。该焊盘提供一个从管芯到PCB的导热通路,从而降低了封装热阻,一般使用一个大焊盘并通过多个孔将散热裸焊盘连接到地平面。裸焊盘是IC散热的主要途径,芯片底部的裸焊盘、PCB及其覆铜层构成了D类放大器的主要散热通道。将裸焊盘焊接在一个较大的覆铜区域,应尽可能扩大该覆铜区域与D类放大器及其它器件之间的覆铜面积,这些连线须具有相同电位。连线应尽可能宽,每个通路都会影响到系统的整体散热能力。与裸焊盘连接的覆铜区域应通过多个过孔连接到PCB另一层的覆铜区。在满足系统信号通路限制的条件下,应尽量扩大由过孔连接的另一层的覆铜面积。另外,尽可能加宽器件的所有引线,是改善器件散热的另一途径。虽然IC引脚不是主要的散热通道,只能提供少量散热(最多可以改善10%的散热能力),但却可以从根本上解决系统的散热问题,使系统的热性能指标达到可以接受的水平。如果系统工作在较高的环境温度下,可能需要添加额外的散热器,以改善PCB的散热能力。为了获得最佳性能,散热器的热阻必须保持在最小值。借助芯片底部的裸焊盘,具有最低热阻的通道位于PCB的底层。IC顶部对于器件散热没有明显影响,因此,不是安装散热器的理想位置。
4.3 WLCSP封装贴片注意事项
某些D类功放IC产品采用WLCSP封装,此封装技术在缩小芯片体积的同时,也存在相对容易损坏的隐患。芯片正面(引脚面)为裸片外加PI保护膜,容易损坏;芯片背面(引脚反面)未加背胶(一般产品均不带,否则容易出现静电问题),SMT时有必要加装缓震装置,以避免较大程度的碰到。
常规测试
1.功率测试
图11. 音频功放测试示意图
免滤波D类功放IC的测试(我公司标称的功率测试方式)采用如上方式,其中RL为负载。免滤波D类功放IC采用的调制方案无需滤波器便能正常工作,但在做相关测试时,由于大多数分析仪、测试仪无法正确处理快速变化的方波信号,需要在后端接入滤波器再接入分析仪,使得分析仪能正确测试。滤波器可以使用专业的音频滤波器,也可以使用简单的RC、LC低通滤波器。如上图11,采用的是LC低通滤波器,由于分析仪内阻很大,电感的阻值可忽略。
测试功率时,输入1KHz正弦波,幅度逐渐增大,直至THD = 10%,此时的输出功率即为我公司标称的功率。
鉴于无音频测试仪测试其功率的个别情况,建议使用示波器粗略估测。估测方法如下:
由于功率一般是指输入1KHz信号在THD=10%时输出的功率,可使用一定幅值的1KHz正弦波输入功放,按图11的方式接负载(用示波器替换音频测试仪),观察示波器波形。然后调节输入1KHz正弦波的幅值,使输出波形发生削顶。此时输出波形的周期应为1ms,在调节输入幅值的过程中测量其削顶宽度,使其正半周和负半周波形的削顶宽度皆为200±20 μs,记下此时电压有效值及负载,核算其功率即可。
2.频响测试
由于滤波器的存在,如果想得到较为真实的频响曲线,需要根据不同情况做不同的测试处理。
2.1纯电阻负载
如果负载用纯电阻来测试,如下图:
图12. 负载为存电阻
此时,可将系统看作二阶系统,由相关知识可知,当L1=C1(RL/2)2时,频响曲线正好平滑。由于相关参数较难精确符合此式,粗略符合即可。经实测,当L1 = L2 = 22uH, C1 = C2 = 1uF, RL = 8ohm时测试基本无问题。
2.2喇叭负载
如果用负载为喇叭来测试,由于喇叭可等效为电感和电阻的串联,即如下图:
图13. 负载为喇叭或R、L串联
此时,L1 = L2 = C1(RL/2)2 = C2(RL/2)2 , Rs = RL, Cs = Ls/(R2)
即能消除喇叭负载的感性而使频响曲线平滑。
我司长期致力于D类功放IC的推广销售,详细的产品资料请查阅:http://www.szczkjgs.com/product_1012.htm
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